臺積電稱2nm工藝有重大改進 GAA晶體管將提高SRAM密度
- 來源:超能網(wǎng)
- 作者:呂嘉儉
- 編輯:豆角
去年有報道稱,SRAM單元在臺積電3nm制程節(jié)點上,與5nm制程節(jié)點基本沒有分別。這一消息也印證了過去的傳言,即臺積電(TSMC)在3nm制程節(jié)點遇到SRAM單元縮減放緩的問題,采用N3B和N5工藝的SRAM位單元大小分別為0.0199μm2和0.021μm2,僅縮小了約5%,而N3E工藝更糟糕,基本維持在0.021μm2,這意味著幾乎沒有縮減。
據(jù)報道,隨著新一代2nm制程節(jié)點的到來,SRAM單元縮減問題似乎看到了曙光。與3nm制程節(jié)點不同,臺積電在2nm制程節(jié)點將引入GAA晶體管架構,有望顯著降低功耗,提高性能和晶體管密度,帶來質的改變。臺積電將在今年12月的IEDM會議上發(fā)表的一篇論文,提到了2nm制程節(jié)點將HD SRAM位單元尺寸縮小到約0.0175μm2。
這將是一個重大的突破,近年來SRAM單元的擴展已經(jīng)變得相當困難,而通過N2工藝,臺積電最終縮減了HD SRAM位單元尺寸,從而提高了SRAM密度。按照目前的情況來看,GAA晶體管架構似乎是HD SRAM位單元尺寸縮小的主要推動力。
要知道現(xiàn)代的CPU、GPU和SoC設計都非常依賴于SRAM密度,需要大容量緩存來有效地提升處理大批量數(shù)據(jù)的能力。從內存訪問數(shù)據(jù)既消耗性能又耗電,因此充足的SRAM對于優(yōu)化性能至關重要。展望未來,對高速緩存和SRAM的需求將持續(xù)增長,因此臺積電在SRAM單元尺寸方面的成就顯得非常重要。

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